革命性ULTRARAM™存储芯片迈出第一步具有DRAM和闪存的所有优点
随着兰卡斯特物理学家的一次成功实验,一种新型通用计算机存储器ULTRARAM™朝开发迈进了重要一步。这些新结果证实了ULTRARAM™的惊人特性,具有快速高效的非易失性存储器的潜力,并具有高耐久性。
目前,动态RAM(DRAM)和闪存这两种主要类型的存储器具有互补的特性和作用:
- DRAM速度很快,因此可用于活动(工作)内存,但它是易失性的,这意味着在断电时信息会丢失。
- 闪存是非易失性的,可以让你把数据放在口袋里,但速度很慢,而且会磨损。它非常适合用于数据存储,但不能用于工作内存。
“通用存储器”是一种非常可靠地存储数据但也可以轻松更改的存储器;到现在为止,人们普遍认为这是无法实现的。
Lancaster团队通过利用称为共振隧穿的量子力学效应解决了通用存储的悖论,通过施加较小的电压即可使势垒从不透明切换为透明。
他们的新型非易失性RAM(称为ULTRARAM™)是所谓的“通用存储器”的有效实施方案,它具有DRAM和闪存的所有优点。
在发表于IEEE Transactions on Electron Devices的最新工作中,研究人员首次将ULTRARAM™器件集成到小型(4位)阵列中。他们通过实验验证一种正在申请专利的新型存储器架构,该架构将构成未来ULTRARAM™存储器芯片的基础。
他们还修改了器件设计,以充分利用谐振隧道的物理特性,使器件的速度比第一个原型快了2000倍,并且编程/擦除循环寿命至少比闪存好十倍,而数据保留率却丝毫不受影响。获取更多前沿科技 研究访问:https://byteclicks.com

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