Altus公司成功开发航空航天行业的透明材料3D光学检测设备

Altus公司成功开发航空航天行业的透明材料3D光学检测设备

Altus公司9月15日宣布,成功开发第一种航空航天行业的透明材料3D光学检测设备。

随着电子设备日益复杂化,对于更高质量控制和过程改进机制的需求不断增加,在制造过程中迅速识别所有潜在问题的重要性也日益提升。识别风险的关键是使用功能强大且复杂的检测设备。作为自动光学检测(AOI)和锡膏厚度检测(SPI)技术的全球领导者Koh Young公司通过对行业首款用于透明材料的3D光测量仪Neptune T的进一步开发,丰富和增强了产品线。Altus是英国和爱尔兰的主要检测设备分销商,目前已经准备向客户展示这一创新检测系统。

Koh Young公司的Neptune T是一套具有开创性的系统,它巧妙地使用无损3D检测技术检查透明和半透明材料的厚度,例如印刷电路板(PCB)上使用的涂料、底部填充胶和环氧树脂等。这种检测方式可以确保保护精密电路保形涂层的有效性,能够保障设备正常运行。

Koh Young公司还扩展了Neptune T的功能,并计划在下一阶段的研发工作中改进系统。这是利用数据汇总和数据驱动处理的方式检查批量生产和在线检测保形涂层质量的检测系统。

Altus业务开发和营销总监Joe Booth表示,针对透明材料(例如保形涂层)的检查,对于实现高质量控制,确保器件或设备在给定的工作环境下能够正常工作非常重要。考虑到3D检测与2D系统相比对AOI和SPI的影响,Neptune为涂层带来了3D检测。鉴于英国生产了很多关键电子产品,这项技术有望成为市场和质量监管体系游戏规则的改变者。

根据目前的情况,已经取得的进展将有助于将已经在AOI和SPI中成功应用的基于数据的决策机制引入到过去传统的主观过程中,实现涂层保形无缺陷。

电子器件制造过程中使用的传统检测系统,一般能够检测涂层的存在,但是无法检验涂层的厚度。这种能力的缺失意味着一些印刷电路板虽然经过了生产线,却没有添加符合要求的保护涂层。

这项技术的进步将极大地提高材料配置、生产、制造的质量,并有助于关键电子产品的制造。Altus计划与Koh Young共同进行样品测试,证明批量生产和在线检测系统的能力和适用性,新系统有望在年底之前投入市场。

Neptune T系统使用Koh Young的LIFT技术,这是一种用于流体层析成像的激光干涉仪。它将产生多层流体结构图像,确保每块PCB上都能够以标准厚度施加涂层进行保护。

盖检测系统适用于包括粘合剂、LED透镜和荧光粉在内的多各应用领域,并且还可用于要求关键电子零部件进行高质量3D检测的汽车、航空航天和照明等行业。[引自“航空工业信息网”]

上一篇:

下一篇:


标签