德国开发便捷散光测量方法

对于现代光学系统而言，优化设计和光学表面的完整检查至关重要。在弗劳恩霍夫应用光学与精密工程研究所IOF，开发了不需要检测杂散光分量的散光测量方法。

IOF开发了各种散射光测量系统和传感器以及相关的分析方法和散射光模型。这使得可以使用虚拟涂层来预测当前生产之前的散射光。此外，复杂的光学器件可以在此过程中进行表征-换句话说，可以根据其设计和构造数据集自动检查表面，并在整个表面上进行评估。

Fraunhofer IOF表征小组负责人Marcus Trost说，这样可以在生产成本和收益之间建立优化的关系。例如，对于卫星光学系统，这一点变得很清楚。这里的挑战是生产与飞行模型，在技术生产可能性的极限下，复位模块等相同类型的几种光学器件在短波长的应用。因此，与散射光测量一起进行的过程分析和有意义的分析至关重要。

IOF的专有技术已经用于一些卫星光学系统的生产和优化，例如在DLR项目EnMAP（环境制图分析计划）的领导下，使用目前已完成的德国地球观测仪器，用于对土地表面的生态系统进行以前的光谱高分辨率和精确记录。或执行ESA前哨计划的多光谱地球观测任务。最后，今年Esa发射了一种新的太空望远镜进入太空：“ Euclid”将重新测量宇宙的深度，并为暗物质和暗能量提供新的见解。

与传统的测量方法相比，该方法由于对振动不敏感，因此可以轻松地集成到生产过程中。下图显示了紧凑型散射光传感器与超精密金刚石车床的集成，该金刚石车床是专为快速、灵活地进行粗糙度和缺陷表征而开发的。这意味着可以在制造过程中直接表征表面粗糙度-必要时可以调整过程参数。

因此，弗劳恩霍夫公司IOF的测量系统也遵循弗劳恩霍夫公司旗舰项目“可以优化产能利用的等级集群作为生产体系结构”（SWAP）的标准，该项目的目的是展示未来生产的新技术概念-首先是按定义的工艺流程对工件进行经典加工用于协作和（部分）自主生产。