科学家开发简单工具,可简化扫描电子显微镜SEM图像的纳米颗粒分析

科学家开发出一种简单经济的工具统计表征纳米粒子。颗粒的大小和形状影响着它们在光电器件、催化剂和传感应用(如表面增强拉曼光谱)中的性能。研究人员意识到没有定量分析SEM图像的好方法。科学家为此开发了一种算法并创建程序,从扫描电子显微镜(SEM)图像中获取有关纳米颗粒(小于100纳米)的数据,这些图像在其他方面很难分析,甚至不可能分析。该研究表明如何利用蛋白质将纳米棒推入手性组装体。

通常使用复杂且昂贵的透射电子显微镜(TEM)统计和表征单个或聚集纳米棒,这种人工测量容易受到人为偏见,或者除非它们相距甚远,否则无法区分颗粒。该工具从低对比度、低分辨率的SEM图像中提取像素级数据,并将其重新组合成清晰图像。

该工具可以快速区分紧密堆积的组件和聚集体中的单个纳米棒,以确定每个颗粒的大小和方向以及它们之间的间隙大小。这样就可以对聚集物进行更有效的统计分析。

该工具可以在几分钟之内表征大型数据集中的纳米粒子,而处理这些数据需要花费数小时人工测量。

研究人员表示,分割纳米粒子是指分离和表征聚集物中的每个组成颗粒。分离纳米颗粒的组成成分可以让研究人员分析和表征聚合体的异质结构。

科学家开发简单工具,可简化扫描电子显微镜SEM图像的纳米颗粒分析

这个工具可以适应原子力显微镜等其他成像技术,并可以扩展到其他纳米粒子形状,如立方体或三角形。

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